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Ieee Transactions On Information Forensics And Security

關(guān)于信息取證和安全的 Ieee Transactions
國際簡稱:IEEE T INF FOREN SEC

Ieee Transactions On Information Forensics And Security

SCIE

按雜志級(jí)別劃分: 中科院1區(qū) 中科院2區(qū) 中科院3區(qū) 中科院4區(qū)

  • 1區(qū) 中科院分區(qū)
  • Q1 JCR分區(qū)
  • 420 年發(fā)文量
  • 100.00% 研究類文章占比
  • 11.31% Gold OA文章占比
ISSN:1556-6013
創(chuàng)刊時(shí)間:2006
是否預(yù)警:否
E-ISSN:1556-6021
出版地區(qū):UNITED STATES
是否OA:未開放
出版語言:English
出版周期:Quarterly
影響因子:6.3
出版商:Institute of Electrical and Electronics Engineers Inc.
審稿周期: 約6.8個(gè)月
CiteScore:14.4
H-index:95
出版國人文章占比:0.28
開源占比:0.134
文章自引率:0.0735...

Ieee Transactions On Information Forensics And Security雜志簡介

Ieee Transactions On Information Forensics And Security是由Institute of Electrical and Electronics Engineers Inc.出版商主辦的計(jì)算機(jī)科學(xué)領(lǐng)域的專業(yè)學(xué)術(shù)期刊,自2006年創(chuàng)刊以來,一直以高質(zhì)量的內(nèi)容贏得業(yè)界的尊重。該期刊擁有正式的刊號(hào)(ISSN:1556-6013,E-ISSN:1556-6021),出版周期Quarterly,其出版地區(qū)設(shè)在UNITED STATES。該期刊的核心使命旨在推動(dòng)計(jì)算機(jī)科學(xué)專業(yè)及COMPUTER SCIENCE, THEORY & METHODS學(xué)科界的教育研究與實(shí)踐經(jīng)驗(yàn)的交流,發(fā)表同行有創(chuàng)見的學(xué)術(shù)論文,提倡學(xué)術(shù)爭鳴,激發(fā)學(xué)術(shù)創(chuàng)新,開展國際間學(xué)術(shù)交流,為計(jì)算機(jī)科學(xué)領(lǐng)域的發(fā)展注入活力。

該期刊文章自引率0.0735...,開源內(nèi)容占比0.134,出版撤稿占比0,OA被引用占比0,讀者群體主要包括計(jì)算機(jī)科學(xué)的專業(yè)人員,研究生、本科生以及計(jì)算機(jī)科學(xué)領(lǐng)域愛好者,這些讀者群體來自全球各地,具有廣泛的學(xué)術(shù)背景和興趣。Ieee Transactions On Information Forensics And Security已被國際權(quán)威學(xué)術(shù)數(shù)據(jù)庫“ SCIE(Science Citation Index Expanded) ”收錄,方便全球范圍內(nèi)的學(xué)者和研究人員檢索和引用,有助于推動(dòng)COMPUTER SCIENCE, THEORY & METHODS領(lǐng)域的研究進(jìn)展和創(chuàng)新發(fā)展。

CiteScore(2024年最新版)

  • CiteScore:14.4
  • SJR:2.89
  • SNIP:2.546
學(xué)科類別 分區(qū) 排名 百分位
大類:Engineering 小類:Safety, Risk, Reliability and Quality Q1 4 / 207

98%

大類:Engineering 小類:Computer Networks and Communications Q1 16 / 395

96%

CiteScore: 這一創(chuàng)新指標(biāo)力求提供更為全面且精確的期刊評(píng)估,打破了過去僅依賴單一指標(biāo)如影響因子的局限。它通過綜合廣泛的引用數(shù)據(jù),跨越多個(gè)學(xué)科領(lǐng)域,從而確保了更高的透明度和開放性。作為Scopus中一系列期刊指標(biāo)的重要組成部分,包括SNIP(源文檔標(biāo)準(zhǔn)化影響)、SJR(SCImago雜志排名)、引用文檔計(jì)數(shù)以及引用百分比。Scopus整合以上指標(biāo),幫助研究者深入了解超過22,220種論著的引用情況。您可在Scopus Joumal Metrics website了解各個(gè)指標(biāo)的詳細(xì)信息。

CiteScore分區(qū)值與影響因子值數(shù)據(jù)對(duì)比

Ieee Transactions On Information Forensics And Security中科院分區(qū)表

中科院分區(qū) 2023年12月升級(jí)版
大類學(xué)科 分區(qū) 小類學(xué)科 分區(qū) Top期刊 綜述期刊
計(jì)算機(jī)科學(xué) 1區(qū) COMPUTER SCIENCE, THEORY & METHODS 計(jì)算機(jī):理論方法 ENGINEERING, ELECTRICAL & ELECTRONIC 工程:電子與電氣 1區(qū) 2區(qū)
中科院分區(qū) 2022年12月升級(jí)版
大類學(xué)科 分區(qū) 小類學(xué)科 分區(qū) Top期刊 綜述期刊
計(jì)算機(jī)科學(xué) 1區(qū) COMPUTER SCIENCE, THEORY & METHODS 計(jì)算機(jī):理論方法 ENGINEERING, ELECTRICAL & ELECTRONIC 工程:電子與電氣 1區(qū) 1區(qū)
中科院分區(qū) 2021年12月舊的升級(jí)版
大類學(xué)科 分區(qū) 小類學(xué)科 分區(qū) Top期刊 綜述期刊
計(jì)算機(jī)科學(xué) 1區(qū) COMPUTER SCIENCE, THEORY & METHODS 計(jì)算機(jī):理論方法 ENGINEERING, ELECTRICAL & ELECTRONIC 工程:電子與電氣 1區(qū) 1區(qū)
中科院分區(qū) 2021年12月基礎(chǔ)版
大類學(xué)科 分區(qū) 小類學(xué)科 分區(qū) Top期刊 綜述期刊
工程技術(shù) 2區(qū) COMPUTER SCIENCE, THEORY & METHODS 計(jì)算機(jī):理論方法 ENGINEERING, ELECTRICAL & ELECTRONIC 工程:電子與電氣 1區(qū) 2區(qū)
中科院分區(qū) 2021年12月升級(jí)版
大類學(xué)科 分區(qū) 小類學(xué)科 分區(qū) Top期刊 綜述期刊
計(jì)算機(jī)科學(xué) 1區(qū) COMPUTER SCIENCE, THEORY & METHODS 計(jì)算機(jī):理論方法 ENGINEERING, ELECTRICAL & ELECTRONIC 工程:電子與電氣 1區(qū) 1區(qū)
中科院分區(qū) 2020年12月舊的升級(jí)版
大類學(xué)科 分區(qū) 小類學(xué)科 分區(qū) Top期刊 綜述期刊
計(jì)算機(jī)科學(xué) 1區(qū) COMPUTER SCIENCE, THEORY & METHODS 計(jì)算機(jī):理論方法 ENGINEERING, ELECTRICAL & ELECTRONIC 工程:電子與電氣 1區(qū) 1區(qū)
中科院分區(qū)表歷年分布趨勢(shì)圖

WOS期刊JCR分區(qū)(2023-2024年最新版)

按JIF指標(biāo)學(xué)科分區(qū) 收錄子集 分區(qū) 排名 百分位
學(xué)科:COMPUTER SCIENCE, THEORY & METHODS SCIE Q1 13 / 143

91.3%

學(xué)科:ENGINEERING, ELECTRICAL & ELECTRONIC SCIE Q1 42 / 352

88.2%

按JCI指標(biāo)學(xué)科分區(qū) 收錄子集 分區(qū) 排名 百分位
學(xué)科:COMPUTER SCIENCE, THEORY & METHODS SCIE Q1 12 / 143

91.96%

學(xué)科:ENGINEERING, ELECTRICAL & ELECTRONIC SCIE Q1 28 / 354

92.23%

JCR(Journal Citation Reports)分區(qū),也被稱為JCR期刊分區(qū),是由湯森路透公司(現(xiàn)在屬于科睿唯安公司)制定的一種國際通用和公認(rèn)的期刊分區(qū)標(biāo)準(zhǔn)。JCR分區(qū)基于SCI數(shù)據(jù)庫,按照期刊的影響因子進(jìn)行排序,按照類似等分的方式將期刊劃分為四個(gè)區(qū):Q1、Q2、Q3和Q4。需要注意的是,JCR分區(qū)的標(biāo)準(zhǔn)與中科院JCR期刊分區(qū)(又稱分區(qū)表、分區(qū)數(shù)據(jù))存在不同之處。例如,兩者的分區(qū)數(shù)量不同,JCR分為四個(gè)區(qū),而中科院分區(qū)則分為176個(gè)學(xué)科,每個(gè)學(xué)科又按照影響因子高低分為四個(gè)區(qū)。此外,兩者的影響因子取值范圍也存在差異。

歷年發(fā)文數(shù)據(jù)

年份 年發(fā)文量
2014 144
2015 202
2016 198
2017 223
2018 224
2019 242
2020 287
2021 387
2022 281
2023 420

期刊互引關(guān)系

被他刊引用情況
期刊名稱 引用次數(shù)
IEEE ACCESS 1519
MULTIMED TOOLS APPL 653
IEEE T INF FOREN SEC 589
IEEE INTERNET THINGS 230
INFORM SCIENCES 175
SENSORS-BASEL 175
FUTURE GENER COMP SY 131
IEEE COMMUN SURV TUT 117
J VIS COMMUN IMAGE R 116
SECUR COMMUN NETW 106
引用他刊情況
期刊名稱 引用次數(shù)
IEEE T INF FOREN SEC 589
IEEE T INFORM THEORY 268
IEEE T PATTERN ANAL 189
IEEE T IMAGE PROCESS 166
IEEE T WIREL COMMUN 152
PATTERN RECOGN 123
IEEE T COMMUN 94
IEEE T VEH TECHNOL 92
IEEE J SEL AREA COMM 80
IEEE SIGNAL PROC LET 66
若用戶需要出版服務(wù),請(qǐng)聯(lián)系出版商:IEEE-INST ELECTRICAL ELECTRONICS ENGINEERS INC, 445 HOES LANE, PISCATAWAY, USA, NJ, 08855-4141。